解析：中國(guó)測(cè)試儀器行業(yè)的發(fā)展不足m.wjgcc.cn

據(jù)統(tǒng)計(jì)，測(cè)試儀器產(chǎn)業(yè)所占電子工業(yè)的產(chǎn)值大約只有不足2%，而電子工業(yè)的產(chǎn)值不過(guò)占世界總產(chǎn)值的2%左右，但依靠測(cè)試儀器拉動(dòng)的新技術(shù)帶來(lái)的附加價(jià)值卻可以占70%-75%的*每年新增的價(jià)值。作為一種應(yīng)用遍及基礎(chǔ)研究到生產(chǎn)線的基礎(chǔ)性產(chǎn)品和技術(shù)，電子測(cè)試儀器行業(yè)的強(qiáng)大，*可以拉動(dòng)一個(gè)國(guó)家創(chuàng)新帶動(dòng)的新增價(jià)值測(cè)試測(cè)量和儀器產(chǎn)業(yè)，是國(guó)防裝備必須的保障，也是研發(fā)前沿科技的利器，同時(shí)更是任何電子技術(shù)都避不開(kāi)的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。然而，無(wú)論從國(guó)防還是民用需求，我們接觸到的測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試儀器，在高性能應(yīng)用上無(wú)一例外都是進(jìn)口品牌。

作為一個(gè)高技術(shù)、資本密集、橫跨多個(gè)學(xué)科并且強(qiáng)調(diào)多年技術(shù)積累的行業(yè)，我們?cè)跍y(cè)試儀器方面與國(guó)外企業(yè)的差距是的，不僅僅是技術(shù)、經(jīng)驗(yàn)和資金不足，更重要的是在概念、標(biāo)準(zhǔn)和理念等方向的差距和在決策方面的不夠重視。

對(duì)國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀器而言，我們始終是跟著別人的腳步在學(xué)習(xí)，這是業(yè)內(nèi)專(zhuān)家一致認(rèn)為我們存在的問(wèn)題。我們還沒(méi)有能力去定義儀器的架構(gòu)，儀器的基礎(chǔ)概念，這就讓我們?cè)诿鎸?duì)各種新興技術(shù)涌現(xiàn)之時(shí)，根本無(wú)法開(kāi)發(fā)出相應(yīng)的測(cè)試儀器滿足其測(cè)試需求，即使這個(gè)技術(shù)可能是我們預(yù)見(jiàn)的，也不得不將大好的商機(jī)讓給國(guó)外企業(yè)，反過(guò)來(lái)當(dāng)我們需要進(jìn)行測(cè)試之時(shí)，又不得不掏錢(qián)去購(gòu)買(mǎi)。觀念和思維的差距

抹平技術(shù)上的差距，不是一蹴而就的事情。但比起技術(shù)上的差距，我們?cè)跍y(cè)試儀器上存在的觀念和思維的差距看起來(lái)很容易解決，但實(shí)際執(zhí)行起來(lái)，比技術(shù)上的差距更難面對(duì)也更關(guān)鍵。測(cè)試儀器是個(gè)資本密集型企業(yè)，企業(yè)的生產(chǎn)規(guī)模很重要，測(cè)試儀器又是一個(gè)市場(chǎng)比較小的行業(yè)，因?yàn)閮x器種類(lèi)繁多，所以單個(gè)儀器種類(lèi)的市場(chǎng)注定不可能很大。這給中國(guó)企業(yè)迎頭趕上增加了更大的難度，一方面，作為技術(shù)密集型和積累型行業(yè)，面對(duì)這么多已經(jīng)很多的國(guó)外競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，要把測(cè)試儀器做大做強(qiáng)，就要有足夠多的投入，并且短期內(nèi)不要指望回報(bào)，這一點(diǎn)無(wú)疑僅靠一些私企是很難有這么強(qiáng)大的財(cái)力去做支撐的。因此，必須要有國(guó)家戰(zhàn)略高度的規(guī)劃和相關(guān)資源的大力支撐，才有機(jī)會(huì)去不斷縮小差距?？梢哉f(shuō)，如果測(cè)試儀器企業(yè)無(wú)法做到一個(gè)比較大的規(guī)模，那么就很難具備和*一較長(zhǎng)短的實(shí)力，而前期的成長(zhǎng)需要巨額長(zhǎng)期的資金投入。

另一方面，因?yàn)槭袌?chǎng)不大，所以就更要強(qiáng)調(diào)企業(yè)研發(fā)的連續(xù)性和專(zhuān)注性，而對(duì)于國(guó)內(nèi)的私企來(lái)說(shuō)，他們面臨著生存的壓力，而對(duì)于很多國(guó)有科研院所而言，他們也面臨創(chuàng)收指標(biāo)以及各種前沿課題的研究，無(wú)法專(zhuān)注于對(duì)一兩類(lèi)的產(chǎn)品進(jìn)行精耕細(xì)作，十年磨一劍錘煉精品。在我們的經(jīng)驗(yàn)和對(duì)測(cè)試?yán)斫舛记啡钡慕裉?，若不靜下心來(lái)好好做出幾款精品，我們拿什么去和國(guó)外企業(yè)競(jìng)爭(zhēng)?再者，因?yàn)槭袌?chǎng)細(xì)分復(fù)雜，因此，對(duì)測(cè)試儀器的架構(gòu)和理念的研究的短期意義很難體現(xiàn)，這就讓一些原本從戰(zhàn)略上國(guó)家支持其研究測(cè)試儀器架構(gòu)和概念的研究機(jī)構(gòu)不再愿意將精力集中于此，而是去追求短期利益更好的其他工作，從而造成只有各個(gè)儀器廠商去自己研發(fā)這些通用的基礎(chǔ)理念，造成很多研發(fā)資源的重復(fù)浪費(fèi)。

另一個(gè)欠缺的觀念上的差距是服務(wù)?？梢哉f(shuō)，作為一個(gè)毛利率超過(guò)50%的行業(yè)，很大部分的企業(yè)銷(xiāo)售利潤(rùn)是用以提供 的市場(chǎng)培育、售后服務(wù)和的。特別是在用戶(hù)的測(cè)試體驗(yàn)和測(cè)試習(xí)慣培養(yǎng)方面，國(guó)內(nèi)企業(yè)在意識(shí)上的差距與企業(yè)相比差得實(shí)在太遠(yuǎn)。某國(guó)內(nèi)測(cè)試儀器生產(chǎn)企業(yè)表示，他們和國(guó)外競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的產(chǎn)品性能類(lèi)似，但用戶(hù)界面UI和操作的通用性方面相差太遠(yuǎn)，而在用戶(hù)中的宣傳更是幾乎為零。當(dāng)用戶(hù)有相應(yīng)的測(cè)試需求時(shí)，即使兩個(gè)產(chǎn)品的性?xún)r(jià)比等指標(biāo)*不同，用戶(hù)也很難去選擇他們的產(chǎn)品而放棄國(guó)外產(chǎn)品，原因只有一個(gè)，用戶(hù)會(huì)用。

技術(shù)上的不足

這些年，特別是在軍用測(cè)試方面，我們看到的是各種總線技術(shù)的盛行，然而不管是早的GPIB，還是后來(lái)的VXI，現(xiàn)在流行的PXI或是不慍不火的LXI，甚至正在興起的AXIe總線，都是外國(guó)人定義研發(fā)的，這也就意味著，我們要應(yīng)用這些總線技術(shù)，就逃不開(kāi)他們定義的測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)及測(cè)試方法，在此基礎(chǔ)上，即使總線標(biāo)準(zhǔn)是開(kāi)放的，即使我們?cè)谟布O(shè)計(jì)上具有和他們一樣的實(shí)力，但是在對(duì)總線技術(shù)的理解上，我們依然存在著不足，同樣的技術(shù)我們確實(shí)應(yīng)用起來(lái)有差距，更何況，多數(shù)情況下我們不得不去購(gòu)買(mǎi)他們的產(chǎn)品來(lái)滿足我們的測(cè)試系統(tǒng)要求。
如果說(shuō)在這些系統(tǒng)級(jí)測(cè)試儀器方面，因?yàn)殚_(kāi)放的總線，我們的技術(shù)差距相對(duì)比較小，那么在臺(tái)式儀器方面，我們的差距幾乎很難去估量。對(duì)于基礎(chǔ)的測(cè)試儀器而言，其架構(gòu)和概念并不難理解，但到了具體的功能定義和產(chǎn)品的功能實(shí)現(xiàn)方面，我們就存在著較大的差距。無(wú)法定義產(chǎn)品的功能并確保能實(shí)現(xiàn)，這會(huì)讓我們的測(cè)試儀器開(kāi)發(fā)和應(yīng)用陷入的是一個(gè)尷尬的循環(huán)。我們無(wú)法跟蹤先進(jìn)的電子技術(shù)發(fā)展的前沿科技，就沒(méi)有辦法了解其測(cè)試需求，就自然無(wú)法去為此開(kāi)發(fā)適合技術(shù)的測(cè)試儀器，那么更談不上把握的測(cè)試市場(chǎng)脈搏和賺取豐厚的那部分利潤(rùn)，而你做不來(lái)先進(jìn)新技術(shù)的測(cè)試，新技術(shù)出現(xiàn)的時(shí)候你就抓不住，人家也不可能交給你去滿足初的測(cè)試需求，這樣就無(wú)法了解的技術(shù)動(dòng)向，也就無(wú)法將新技術(shù)應(yīng)用到你的測(cè)試儀器中。在這個(gè)循環(huán)中，我們始終無(wú)法找到一個(gè)突破口，而只能默默看著在一次次新技術(shù)經(jīng)歷這樣的循環(huán)后，距離前沿技術(shù)和測(cè)試越來(lái)越遠(yuǎn)。

在國(guó)防和軍用測(cè)試中，制約本土測(cè)試儀器應(yīng)用一個(gè)更重要的問(wèn)題來(lái)自于核心半導(dǎo)體器件的缺失，我們看到的是，國(guó)內(nèi)的測(cè)試儀器企業(yè)，無(wú)論是老牌國(guó)有研究所還是新興的私有測(cè)試儀器企業(yè)，自身具備的芯片研發(fā)能力相比*有非常大的差距?？梢哉f(shuō)，測(cè)試用的芯片因?yàn)槠涮厥獾囊恍┮?，在市?chǎng)上是很難找到相關(guān)合適的產(chǎn)品，特別是在信號(hào)分析和信號(hào)采集方面，模擬前端技術(shù)和信號(hào)采集技術(shù)的不足，直接體現(xiàn)在我們的測(cè)試儀器無(wú)法捕獲我們需要的一些特征信號(hào)，比如雷達(dá)和微波技術(shù)的絕大部分需求，商用芯片是無(wú)法滿足其測(cè)試需求的，這樣的結(jié)果是，我們的測(cè)試儀器廠商不是不知道怎么去滿足，而是沒(méi)有相關(guān)的半導(dǎo)體器件能夠讓我們做出滿足這些采樣率、帶寬需求的產(chǎn)品，而這兩點(diǎn)，恰恰是國(guó)防軍工應(yīng)用中許多信號(hào)分析和信號(hào)處理的前提。

經(jīng)過(guò)幾個(gè)小時(shí)的討論，與會(huì)的專(zhuān)家紛紛闡述了各自的觀點(diǎn)，匯總起來(lái)大致包含如下幾點(diǎn)：

一，解決中國(guó)測(cè)試儀器落后的問(wèn)題不僅僅是錢(qián)和人的問(wèn)題，涉及觀念、思維和技術(shù)積累以及國(guó)家戰(zhàn)略的重視。

二，解決測(cè)試儀器的落后問(wèn)題，需要的是國(guó)有科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)，以及民營(yíng)和私營(yíng)企業(yè)共同努力，需要從標(biāo)準(zhǔn)到架構(gòu)到概念的一系列測(cè)試體系的逐步建立。

三，測(cè)試儀器的問(wèn)題，同時(shí)也是國(guó)家在軟件和硬件方面不足的集中體現(xiàn)，測(cè)試儀器的繁榮離不開(kāi)相關(guān)的軟硬件實(shí)力的提升。

四，測(cè)試儀器水平的高低，直接影響了我國(guó)國(guó)防科技和相關(guān)電子工業(yè)的自主創(chuàng)新能力和戰(zhàn)略布局。